半導體材料特性測試

一、概述

該方案旨在使用TH2690高精度靜電計，對半導體材料進行電學特性測試。通過電流測試模式，評估材料在不同條件下的響應特性，為客戶的材料研究與產品開發提供數據支持。

應用實例

在西安某高校實驗室內使用TH2690高精度靜電計，對客戶提供的光敏電阻材料進行電學特性試。通過電流測試模式，評估材料在不同光照條件下的響應特性，為客戶的材料研究與產品開發提供數據支持。

1.測量光敏電阻在暗態與光照下的電流值；

2.繪制電流-電壓（I-V）特性曲線；

3.分析材料的響應時間、靈敏度等關鍵參數；

4.為客戶提供可重復的測試方法與標準操作流程

三、測試設備與系統配置

主要設備：

TH2690靜電計（具備高精度電流測量功能）

探針臺（用于接觸樣品）

光源系統（可調節光照強度）

計算機（搭載上位機軟件，用于數據采集與分析）

軟件支持：

TH2690配套上位機軟件（支持實時數據采集、曲線繪制、數據導出）

四、測試步驟

樣品準備

將光敏電阻樣品置于探針臺上，確保良好電接觸；

連接TH2690的電流測量端口至探針。

設備設置：

開啟TH2690，選擇電流測量模式（Current Mode）；

設置合適的量程（如nA或pA級），避免量程過大導致精度下降

連接上位機軟件，啟動實時數據采集功能。

暗態測試：

在無光照條件下，施加一系列偏壓1V，記錄曲線；

繪制暗態I-V曲線。

光照測試：

使用光源照射樣品，調節光照強度；

在不同光照條件下重復步驟3，記錄電流值；

繪制不同光照下的I-V曲線。

五、預期成果

1.完整的I-V特性曲線數據集；

2.材料的光電響應特性分析報告；

3.客戶可獨立操作的培訓材料與視頻。

4.完整將測試過程在用戶面前演示，解答用戶的疑問以及建群線上溝通。