DMM7512 7.5位萬(wàn)用表將兩個(gè)全功能，高精度，高采樣速度的DMMs集成到一個(gè)1U高，全機(jī)架寬的機(jī)箱中。緊湊的機(jī)箱可節(jié)省高儀器密度測(cè)試系統(tǒng)中的機(jī)架空間，而不會(huì)影響測(cè)量性能。每個(gè)DMM具有相同的功能，并且它們彼此完全獨(dú)立。 

兩個(gè)DMM7510s內(nèi)置在一個(gè)緊湊的外殼中

DMM7512由兩個(gè)獨(dú)立的相同的7 ? 位DMM7510數(shù)字萬(wàn)用表(dmm) 組成，具有較少的測(cè)量功能。兩個(gè)DMM7512 dmm具有與DMM7510相同的精度，靈敏度和速度，因此DMM7512可以無(wú)縫集成到以前使用DMM7510s的測(cè)試系統(tǒng)中。

亮點(diǎn)

l 使用1msample/s、18位數(shù)字化儀對(duì)復(fù)雜波形進(jìn)行采樣; 最多可存儲(chǔ)2750萬(wàn)個(gè)讀數(shù)

l 用于具有0.1 μ ? 和1 pa靈敏度的低功耗電路的測(cè)試元件

l 最大限度地提高測(cè)試質(zhì)量與高測(cè)試不確定度比使用1年精度直流電壓14 ppm

內(nèi)置測(cè)試腳本處理器 (TSP?) 允許在沒(méi)有控制器交互的情況下執(zhí)行測(cè)試序列，從而減少測(cè)試時(shí)間和通信開(kāi)銷，同時(shí)利用控制器執(zhí)行其他任務(wù)

雙測(cè)試系統(tǒng)密度

在1U高的機(jī)架空間中使用兩個(gè)dmm，節(jié)省寶貴的機(jī)架空間。與兩個(gè)2U高的dmm7510相比，您可以在一半的空間內(nèi)獲得兩倍的測(cè)量能力。

亮點(diǎn)

l 將采購(gòu)和測(cè)量與2606B高密度、4通道源測(cè)量單元 (SMU) 和DMM7512相結(jié)合，可在低至2U的機(jī)架空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)四個(gè)采購(gòu)?fù)ǖ篮蛢蓚€(gè)測(cè)量通道

l DMM7512s或2606Bs之間不需要額外的熱管理間隔

顯著縮短測(cè)試時(shí)間

每個(gè)DMM7512中的兩個(gè)dmm都具有內(nèi)置的智能，可以使用其測(cè)試腳本處理器在無(wú)需PC交互的情況下執(zhí)行測(cè)試程序 (TSP?) 技術(shù)。此外，每個(gè)DMM都具有TSP鏈路?硬件接口，以便一臺(tái)儀器可以控制主從配置中的其他儀器。

亮點(diǎn)

l 在TSP-Link測(cè)試系統(tǒng)中控制多達(dá)32臺(tái)儀器

l 以低于500 ns的延遲同步測(cè)量

l 消除儀器和PC之間耗時(shí)的通信

l DMM7512 TSP代碼與DMM7510 TSP代碼兼容